NI PXI-6251 数据采集 (DAQ) 模块

描述

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产品详细说明：

NI PXI-6251 是一款高性能的多功能数据采集 (DAQ) 模块，属于 NI 的 M 系列产品线。它设计用于 PXI (PCI eXtensions for Instrumentation) 平台，提供模拟输入 (AI)、模拟输出 (AO)、数字输入/输出 (DIO) 和计数器/定时器功能。该模块旨在以高速和高精度进行数据采集和控制，适用于各种测试、测量和控制应用。

主要特点包括：

• 高速采样率： 单通道最高可达 1.25 MS/s (兆样本每秒)。
• 高分辨率： 16 位模拟输入分辨率，提供精确的测量。
• 多路复用模拟输入： 提供 16 个单端或 8 个差分模拟输入通道。
• 模拟输出： 2 个模拟输出通道，具有 16 位分辨率和高达 2.8 MS/s 的更新速率。
• 数字 I/O： 24 条高电流数字 I/O 线，可进行静态或硬件定时的数字任务。
• 计数器/定时器： 2 个 32 位计数器/定时器，用于各种计数、定时和触发应用。
• 高级触发： 支持模拟和数字触发，可灵活地同步采集和生成。
• NI-STC 2 系统控制器： 集成 NI-STC 2 技术，提供高级定时、触发和同步功能。
• NI-PGIA 2 可编程放大器： 板载 NI-PGIA 2 放大器，可在高扫描速率下实现快速稳定，确保 16 位精度。
• NI-MCal 校准技术： 提供增强的测量精度。
• 软件支持： 兼容 NI-DAQmx 驱动软件和 NI LabVIEW SignalExpress 交互式数据记录软件，以及其他多种编程环境，如 LabVIEW、Measurement Studio 和 ANSI C/C++。

产品参数：

以下是 NI PXI-6251 的主要参数：

• 模拟输入：
  • 通道数：16 个单端或 8 个差分
  • 分辨率：16 位
  • 最大采样率：1.25 MS/s (单通道)，1 MS/s (多通道聚合)
  • 输入范围：±0.1 V, ±0.2 V, ±0.5 V, ±1 V, ±2 V, ±5 V, ±10 V
  • 输入耦合：DC
• 模拟输出：
  • 通道数：2
  • 分辨率：16 位
  • 最大更新速率：2.8 MS/s (聚合)
  • 输出范围：±10 V
• 数字 I/O：
  • 通道数：24
  • 方向：可编程为输入或输出
  • 逻辑电平：5 V TTL/CMOS
  • 最大输出电流：±24 mA (每通道)
• 计数器/定时器：
  • 通道数：2 个 32 位计数器/定时器
  • 最大计数器频率：80 MHz
• 触发：
  • 模拟触发：外部模拟触发，可配置触发边沿和电平
  • 数字触发：外部数字触发，可配置触发边沿
  • 软件触发
• 总线接口： PXI
• 校准： NIST 可溯源校准证书
• 尺寸： 标准 3U PXI 模块
• 重量： 7.8 oz (约 221 g)
• 工作温度： 0 °C 至 55 °C
• 存储温度： -20 °C 至 70 °C
• 湿度： 10% 至 90% 相对湿度，非冷凝

产品优势：

• 高性能数据采集： 高采样率和高分辨率 обеспечивают точные измерения на высоких скоростях.
• 多功能性： 集成模拟输入、模拟输出、数字 I/O 和计数器/定时器功能于一体，适用于多种应用。
• 精确的定时和同步： NI-STC 2 技术提供高级的定时、触发和同步能力，可实现精确的控制和协调。
• 易于使用和集成： 兼容 NI-DAQmx 驱动软件和 LabVIEW 等 NI 软件平台，简化了开发和集成过程。
• 可靠性： NI 作为知名的测试和测量设备供应商，其产品具有较高的可靠性。
• 灵活的信号调理： 可通过 SCC 或 SCXI 信号调理模块扩展传感器和高电压测量功能。
• 广泛的软件支持： 支持多种操作系统和编程语言。

注意事项：

• PXI 机箱要求： 需要安装在兼容的 NI PXI 或 PXIe 机箱中使用。
• 电源需求： 确保 PXI 机箱能够提供模块所需的电源。
• 静电防护： 操作模块时应采取适当的静电防护措施。
• 信号接线： 仔细阅读接线手册，确保信号线的正确连接，避免损坏模块或影响测量精度。
• 软件安装： 在使用前需要安装正确的 NI-DAQmx 驱动程序和相关的软件。
• 校准： 为保证测量精度，建议定期对模块进行校准。
• 环境条件： 确保模块在规定的工作温度和湿度范围内使用。
• 过压保护： 避免输入信号超过模块的额定电压范围。

产品应用：

NI PXI-6251 广泛应用于各种测试、测量和控制领域，包括但不限于：

• 实验室自动化： 用于控制实验设备和进行数据采集。
• 研究和开发： 用于科学研究、产品开发和原型设计。
• 设计验证和测试： 用于电子产品、机械系统等的性能测试和验证。
• 生产测试： 用于自动化生产线上的产品质量检测。
• 过程监控： 用于工业过程中的数据采集和监控。
• 汽车测试： 例如传感器测试、数据记录等。
• 航空航天测试： 例如结构测试、环境测试等。
• 振动和声学分析： 用于采集振动和声音信号。
• 瞬态信号采集： 用于捕获快速变化的信号。
• 控制系统原型设计： 用于快速开发和测试控制算法。

更过产品库存细节：

               

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