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NI 5540 射频信号合路模块

¥888.00

NI 5540 射频信号合路模块
品牌:NI  型号:5540

原产国:美国 重量:1.5kg
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分类: SKU: 5540

描述

产品描述   产品功能    技术资料

1. 产品详细说明 (Product Overview)

NI 5540 是 NI 专门为 射频(RF)与微波测试系统 设计的 PXI/PXIe 架构信号调理与测量模块。

在复杂的无线通信测试、雷达信号测量以及 RF 自动测试设备(ATE)中,NI 5540 主要充当射频功率计调理界面RF 信号路由与测量辅助模块。它通常配合 NI 外部的 USB/PXI 射频功率传感器(RF Power Sensors)或向量信号分析仪(VSA)使用,用于精准测量连续波(CW)、调制信号和脉冲 RF 信号的绝对功率、峰值功率及包络特征。

2. 产品主要技术参数 (Technical Specifications)

参数分类 详细规格
模块总线架构 PXI / PXI Express (单槽位或双槽位卡件)
工作频率范围 依赖所连接的 RF 传感器(典型覆盖 10 MHz 至 6 GHz / 18 GHz / 26.5 GHz)
测量动态范围 典型为 -60 dBm 至 +20 dBm(取决于前端传感器类型)
接口类型
  • 前面板:SMA / N 型接口或专用多通道控制连接器


  • 后背板:PXI Trigger / PXI Clock 同步总线
测量功能 均方根功率(Average Power)、峰值功率(Peak Power)、峰均比(CCDF)、脉冲参数
采样与触发 支持 PXI 背板星形触发(Star Trigger)及硬件定时极速触发同步
驱动与编程环境 NI-POWER(或 NI-RFSA/NI-RFSG)、LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET

3. 产品核心优势 (Key Advantages)

  • 极高的测试吞吐量:依托 PXI/PXIe 总线极低延时的硬件触发机制,测量速度远高于传统的桌面型射频功率计。

  • 高精度与宽动态范围:具备出色的温度补偿与线性度校准,可在极宽的信号幅度范围内保持准确的功率量程。

  • 与 NI 软件无缝集成:可直接在 LabVIEW 中调用 API,快速构建自动化 RF 测试系统,并与向量信号发生器(VSG)轻松组建闭环功率控制。

  • 紧凑的模块化结构:极大节省测试机架空间,可在单个 PXI 机箱内扩展多个通道,实现多天线(MIMO)或多器件并行测试。

4. 重要注意事项 (Precautions & Guidelines)

[!WARNING]

射频过载与静电防护 (ESD Warning)

  1. 最大输入功率限制:连接 RF 端口前,务必确认输入信号电平不得超过端口最大过载阈值(通常为 +23 dBm 到 +30 dBm),超载将永久烧毁内部衰减器或测量二极管。

  2. 防静电(ESD):RF 端口对静电极其敏感。操作人员必须佩戴防静电手环,并在接线前释放电缆上的积累静电。

  1. 阻抗匹配:确保外部连接线缆与被测件(DUT)均为 50 Ω 标称阻抗。若存在阻抗不匹配,需使用高品质匹配衰减器,否则驻波比(VSWR)会严重影响测量的准确度。

  2. 定期校准:射频器件受环境温度和使用老化影响较大,建议每 12 个月送回 NI 或指定计量机构进行一次硬件校准(Calibration)

  3. 散热与风道:在 PXI 机箱中使用时,确保机箱风扇正常运转且模块两侧留有良好的风道,防止高频电路因过热产生漂移。

5. 典型应用场景 (Applications)

  • 无线终端与基站生产测试:用于 4G/5G、Wi-Fi 6/7 设备的发射机发射功率(Tx Power)校准及最大输出功率测试。

  • 雷达与航空航天组件测试:脉冲 RF 信号的上升时间、脉宽及峰值功率测定。

  • RF 功放(PA)特性测试:测量功率放大器的增益平坦度、1dB 压缩点(P1dB)以及饱和功率。

  • 大规模产线 ATE 系统:多通道 RF 信号的快速巡检与功率监控。

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